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Confronto tra sorgente FEG e a Tungsteno: quali sono le differenze?


Dopo alcuni anni di esperienza nell’ utilizzo del microscopio elettronico a trasmissione (TEM), nel 2006 ho iniziato la mia carriera nella microscopia elettronica come operatore SEM presso il centro di ricerca medica e biologica di York (Regno Unito). Pur non conoscendo il funzionamento del SEM, passare dal microscopio elettronico a trasmissione (TEM) a un microscopio a scansione compatto è stato relativamente semplice. In questo blog spiegherò perché preferisco utilizzare la sorgente FEG in un SEM, in che modo può migliorare la tua ricerca e quali sono le principali differenze tra le due sorgenti.

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Come individuare l'astigmatismo nelle immagini di un microscopio compatto (SEM)


Potresti aver sentito parlare dell'astigmatismo come disturbo della vista cui sono affetti circa il 40% degli adulti, ma come si può applicare alla microscopia elettronica? Prima di iniziare, chiariamo il significato della parola astigmatismo: composto dal prefisso a (senza) + stigmat (segno o punto in greco antico) + ism (condizione). In un sistema ottico perfetto, una lente possiede un solo punto focale ed è stigmatico. Quando la stessa lente ha più di un punto focale, invece, viene detta astigmatica. Questo accade quando la lente è allungata sul piano longitudinale (asse y) o trasversale (asse x), il che si traduce nella presenza di due punti focali (= foci).

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Il Phenom Pharos vincitore del premio “Analytical Scientist Innovation Award 2018”!


Il Phenom Pharos della Thermo Scientific ™ si è posizionato al secondo posto agli “Analytical Scientist Innovation Award 2018!”. Il microscopio, lanciato ad agosto 2018, è il fiore all'occhiello della gamma dei SEM compatti Phenom.

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Novità: Phenom Pharos!


Nuovo Phenom Pharos: il primo SEM compatto a sorgente FEG!

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Il deterioramento del campione: le cause e i metodi per rallentare il processo


Quando si utilizza un microscopio elettronico a scansione (SEM), il fascio di elettroni può, nel corso del tempo, alterare o deteriorare il campione sotto osservazione in maniera irreversibilmente. Il deterioramento è un effetto collaterale che può alterare – o persino distruggere – i dettagli che si vorrebbero osservare, e di conseguenza cambiare i risultati e le conclusioni. In questo articolo, verranno illustrate le cause del deterioramento, e come rallentare il processo.

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La stabilità delle emissioni nelle sorgenti termoioniche del SEM: CeB6, LaB6 e filamenti W


Nella grande maggioranza dei casi, i Microscopi elettronici a scansione (SEM) utilizzano sorgenti termoioniche, che emettono gli elettroni quando il filamento viene scaldato. Sebbene i principi di funzionamento siano gli stessi, sorgenti termoioniche diverse presentano differenti prestazioni. I SEM della Phenom sono equipaggiati con una sorgente di Esaboruro di Cerio (CeB6) che garantisce maggior brillanza e durata rispetto al filamento di Tungsteno. Ma un parametro estremamente importante per determinare la qualità di una sorgente è la stabilità della corrente emessa. Quali sono le prestazioni del CeB6 in termini di stabilità? Quali sono le soluzioni tecniche che consentono alla sorgente del Phenom di massimizzare il potenziale di una cristallo in CeB6? In questo articolo risponderemo a tali domande.

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Microscopio ottico vs. SEM: sistemi di analisi d’immagine per la caratterizzazione di particelle


La caratterizzazione delle particelle è un processo estremamente importante per molte aziende di produzione. Nel caso tu sia un operatore, un ricercatore o un ingegnere di processo, quest’analisi è spesso fondamentale per l’attività di R&D. Nel caso tu sia un manager di produzione, dovrai assicurarti della qualità del processo di produzione. Si possono utilizzare diversi sistemi di analisi d’immagine per la caratterizzazione delle particelle. In questo articolo confronteremo il microscopio elettronico a scansione ed il microscopio ottico, per trovare il più adatto alle proprie esigenze.

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Automatizzare le analisi al SEM: un esempio applicativo


In un precedente articolo, abbiamo parlato di come il processo di automatizzazione del SEM consenta agli operatori di laboratorio di risparmiare tempo. Molti degli utilizzatori del microscopio elettronico a scansione impiegano questo tipo di strumento per una vasta gamma di ragioni. In questo articolo descriveremo un esempio di applicazione del SEM nel campo del Laser Induced Damage Threshold test (LIDT).

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Come ottenere un’analisi delle fibre di qualità grazie ad un’adeguata preparazione del campione


Le fibre vengono in genere analizzate col microscopio elettronico a scansione (SEM), che fornisce immagini con alta risoluzione, analisi elementale, e la possibilità di misurare automaticamente miglia di fibre in pochi minuti. Tuttavia, in alcuni casi, l’acquisizione di immagini può presentare diverse sfide a causa della natura stessa delle fibre, che potrebbe compromettere la qualità dell’analisi. Tenendo a mente questa problematica, nel seguente articolo descriveremo come ottenere immagini ed analisi delle fibre di elevata qualità attraverso un’adeguata configurazione del SEM e preparazione del campione.

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Dentro un microscopio a scansione elettronica: come funziona la colonna di elettroni


I microscopi elettronici a scansione (SEM) utilizzano un fascio di elettroni per analizzare i campioni con una risoluzione su scala nanometrica. Gli elettroni vengono emessi da un filamento e collimati in un fascio all’interno di una sorgente di elettroni. Il fascio viene poi focalizzato sulla superficie del campione da un set di lenti all’interno della colonna di elettroni. Come funziona la lente? Quali tipologie di lenti esistono? Come vengono combinate per formare una colonna di elettroni? In questo articolo, risponderemo a queste domande e spiegheremo il principio di funzionamento della colonna di elettroni.

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Non esternalizzare il tuo lavoro - fatti il tuo SEM personale!


Se state valutando l’acquisto di un microscopio elettronico a scansione per smettere di esternalizzare il lavoro, avrete probabilmente già calcolato che l’acquisto di un SEM vale l’investimento. Ma anche i costi operativi sono altrettanto importanti; tutti i costi relativi al possedimento di un SEM come manutenzione ordinaria e straordinaria, consumi, costo degli operatori, struttura ed attrezzature di contorno.
In questo approfondimento cercheremo di capire tutti I costi coinvolti e faremo un confronto tra SEM tradizionali, da pavimento, e compatti.

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Perchè un SEM compatto consente di risparmiare tempo in laboratorio


Gli operatori di laboratorio si trovano spesso sotto pressione, dovendo consegnare il lavoro in tempi brevi, mantenendo al tempo stesso un alto standard di qualità.Questa sfida può dipendere molto dalla tecnologia utilizzata in laboratorio. Una soluzione è lavorare con un microscopio ottico, tutt’altra cosa l’utilizzare un miscroscopio elettronico a scansione (SEM). Il SEM produce immagini con risoluzione ed ingrandimenti maggiori rispetto al microscopio ottico, possiede una migliore profondità di campo e permette la visualizzazione tridimensionale dell’oggetto.

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L’orientamento del campione SEM: come mantenere l’area di interesse nel campo visivo


Con alcuni campioni può essere difficile ottenere un’immagine di qualità. A volte, neanche una preparazione eccellente del campione, consente di ottenere i risultati attesi. La rugosità della superficie e la morfologia del campione possono nascondere l’area di interesse, e rendere inaccessibili informazioni fondamentali sui difetti superficiali o le caratteristiche del materiale. In questi casi, è necessario un nuovo “punto di vista”.

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Scanning Electron Microscopy (SEM): la tecnica più adatta per l’analisi delle fibre


Esistono diversi tipi di fibre, con proprietà specifiche per il prodotto in cui vengono utilizzate,ma nella maggior parte dei casi il loro utilizzo nei prodotti non viene notato. Vediamo meglio i diversi modi in cui queste fibre possono essere classificate e come possono essere analizzate con il microscopio a scansione elettronica. Le varie tipologie di fibre possono essere divise tra fibre naturali e fibre sintetiche. Concentriamoci su queste ultime, in particolare sulle fibre non tessili.

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Le tecniche di preparazione del campione per neutralizzare l’effetto del vuoto


Un microscopio SEM analizza il campione colpendolo con un fascio di elettroni, ed analizzando gli elettroni emessi che contengono informazioni sul materiale con il quale hanno interagito. Se è presente un gas insieme al campione, i suoi atomi interagiranno con il fascio e gli elettroni, creando un disturbo nell’immagine.
Per questo motivo il SEM genera un vuoto prima di creare l'immagine. Il vuoto è quindi fondamentale per garantire una corretta analisi, ma può anche avere un effetto negativo su certi tipi di materiali da analizzare.

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Come funziona l’analisi EDX nel microscopio elettronico a scansione(SEM)


I microscopi elettronici a scansione (SEM) utilizzano fasci di elettroni per investigare un campione su nanoscala. I principali tipi di segnali rilevati sono gli elettroni retrodiffusi (BSE) e gli elettroni secondary (SE), che generano un’immagine in bianco e nero del campione con un elevato ingrandimento. Ci sono però numerosi altri segnali che possono essere generati dall’ interazione tra gli elettroni e la materia e per fornire ulteriori informazioni sul campione. In questo articolo descriveremo come funziona sul SEM l’analisi energy dispersive X-ray (EDX O EDS).

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Che cos’è il SEM? Spieghiamo la tecnologia del Microscopio elettronico a scansione


Il microscopio elettronico a scansione (SEM) è diventato un potente e versatile strumento per la caratterizzazione dei materiali, specialmente negli ultimi anni, a causa della continua riduzione della dimensione dei materiali usati nelle più svariate applicazioni. In questo articolo, descriveremo i principi di funzionamento del SEM

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